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TTS-030 トランスデューサテストシステム

超音波ユニット・超音波検査装置

TTS-030 トランスデューサテストシステム


画像トランスデューサーテストシステムTTS-030はあらゆるメーカーのトランスデューサの状態を測定します。
そのトランスデューサーをボンディングマシンに搭載する前後に異常が無いか検知し、またボンディングツールの取り付けにより共振周波数(電流値,位相,インピーダンス)がどのように変位するか確認することにより品質管理としても使用することが出来ます。
弊社の超音波振幅測定装置ODS-010と連結し定期的検査を実行することにより高いボンディング性を維持し問題発生した時の原因究明の時間と費用の削減になります。
特に超音波ボンディングマシン/トランスデューサの製造者、開発者、またメンテナンスを行う方々には推奨できる製品として提供させて頂いております。

装置仕様

仕様

対応オペレーティングシステム Microsoft Windows(Windows2000,Windows XP,Windows7&Windows10)
測定対象 共振周波数,抵抗値,Wattage,ツールメカニカル振動(ODS接続時)
周波数レンジ 20～200kHz
周波数分解能 1Hz
フルスケール精度 ±2.5%
最高出力 細線仕様 : 5W / 22Ω抵抗接続時
太線仕様 : 30W / 32Ω抵抗接続時
コントロールループ 電圧コントロールもしくは電力コントロール
プロテクション ショートサーキットプロテクション
外径寸法 10.5"×6"×12.4"
供給電圧 115/230VAC 50/60Hz
通信インターフェース RS232
※USBからRS232へのコンバータはRS232コネクタのないコンピュータで使用可能です。

特徴

■　　市場に出ているあらゆるメーカーのトランスデューサに対しても特性の確認・判断が可能

■　　使用する前に問題のあるトランスデューサの検知が可能

■　　広域周波数サーチを行うことで、トランスデューサの共振周波数の確認が可能

■　　異なるパワー出力におけるトランスデューサの特性と変化の確認が可能
　　
■　　ある一定期間トランスデューサを使用した際その特性の変化を確認

■　　ボンダーの作業者に対してトランスデューサーやツールの取り付け方による超音波の特性がどの様に変化するかをトレーニングするために使用可能

波形1

トランスデューサの共振周波数(電流値,位相,インピーダンス)やトランスデューサ良し悪しの識別(副共振点がないかどうか)

テスト結果例1 共振周波数サーチテスト


テスト結果例2 位相波形確認


テスト結果例3 問題のあるトランスデューサの識別


波形2

異なる出力パワー下でのトランスデューサの特性変化を確認

テスト結果例1 出力差によるトランスデューサ特性変化01


テスト結果例2 出力差によるトランスデューサ特性変化02


テスト結果例3 出力差によるトランスデューサ特性変化03


波形3

トランスデューサやツールの固定位置や固定強度の重要性を確認

トランスデューサも固定ポイント


■　トランスデューサを固定する 最も注意すべき点は、超音波の振動に影響を与えないポイント（ゼロポイント）の固定
■　トランスデューサの固定ポイントは超音波の安定性に大きく影響
■　超音波の波が先端に伝わる際に全く振動していないポイント（ヌル点）があり
その点を固定するためにカラーやフランジをデザイン

テスト結果例1 トレーニングツールとしてのTTS-030


不適切なクランプ力はトランスデューサのパフォーマンスに影響を与える可能性が
あります